Baza aktów prawnych Unii Europejskiej Cytaty odnotowujące konkretne użycie tłumaczeń słów angielsko-polskich i polsko-angielskich umieszczone w serwisie Translatica.pl pochodzą z Bazy danych DGT-TM, która jest wyłączną własnością Komisji Europejskiej i została udostępniona bezpłatnie i bez ograniczeń terytorialnych. Data dostępu do bazy 02.09.2019. Dokładne informacje nt. pochodzenia źródła tłumaczenia oraz daty powstania dokumentu w bazie DGT-TM zostały umieszczone pod poszczególnymi cytatami wraz z aktywnym odnośnikiem do oryginalnego dokumentu z bazy.
Lista cytatów w języku polskim i angielskim zawierająca frazę: wiązka
Zmiany odchylenia
wiązki
świateł mijania lub nachylenia pojazdu, w zależności od wybranej metody, muszą być mierzone osobno dla każdej strony pojazdu.
The variations in either dipped-beam or vehicle inclination, depending on the method chosen, shall be measured separately for each side of the vehicle.
Zmiany odchylenia
wiązki
świateł mijania lub nachylenia pojazdu, w zależności od wybranej metody, muszą być mierzone osobno dla każdej strony pojazdu.
The variations in either dipped-beam or vehicle inclination, depending on the method chosen, shall be measured separately for each side of the vehicle.
Zmiany odchylenia
wiązki
świateł mijania lub nachylenia pojazdu, w zależności od wybranej metody, muszą być mierzone osobno dla każdej strony pojazdu.
The variations in either dipped-beam or vehicle inclination, depending on the method chosen, shall be measured separately for each side of the vehicle.
Zmiany odchylenia
wiązki
świateł mijania lub nachylenia pojazdu, w zależności od wybranej metody, muszą być mierzone osobno dla każdej strony pojazdu.
The variations in either dipped-beam or vehicle inclination, depending on the method chosen, shall be measured separately for each side of the vehicle.
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
of the dipped-beam headlamps shall be determined under the following load conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
of the dipped-beam headlamps shall be determined under the following load conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
of the dipped-beam headlamps shall be determined under the following load conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
of the dipped-beam headlamps shall be determined under the following load conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia;
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps must be determined under the following loading conditions;
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia;
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps must be determined under the following loading conditions;
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps shall be determined under the following loading conditions;
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps shall be determined under the following loading conditions;
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps must be determined under the following loading conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps must be determined under the following loading conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps shall be determined under the following loading conditions:
Kąt odchylenia
wiązki
świateł mijania wyznacza się w następujących warunkach obciążenia:
The angle of the light
beam
from the dipped-beam headlamps shall be determined under the following loading conditions:
Jeżeli do ustawienia
wiązki
świateł służy kilka przycisków, to przycisk odpowiadający maksymalnemu odchyleniu do dołu musi znajdować się po lewej lub poniżej przycisku(-ów) odpowiadającemu(-ych)...
If several buttons are used to adjust the
beam
, the button which gives the greatest downward inclination must be installed to the left or below the button(s) for other dipped-beam positions.
Jeżeli do ustawienia
wiązki
świateł służy kilka przycisków, to przycisk odpowiadający maksymalnemu odchyleniu do dołu musi znajdować się po lewej lub poniżej przycisku(-ów) odpowiadającemu(-ych) pozostałym ustawieniom świateł mijania.
If several buttons are used to adjust the
beam
, the button which gives the greatest downward inclination must be installed to the left or below the button(s) for other dipped-beam positions.
Jeżeli do ustawienia
wiązki
świateł służy kilka przycisków, to przycisk odpowiadający maksymalnemu odchyleniu do dołu musi znajdować się po lewej lub poniżej przycisku(-ów) odpowiadającemu(-ych)...
If several buttons are used to adjust the
beam
, the button which gives the greatest downward inclination shall be installed to the left or below the button(s) for other dipped-beam positions.
Jeżeli do ustawienia
wiązki
świateł służy kilka przycisków, to przycisk odpowiadający maksymalnemu odchyleniu do dołu musi znajdować się po lewej lub poniżej przycisku(-ów) odpowiadającemu(-ych) pozostałym ustawieniom świateł mijania.
If several buttons are used to adjust the
beam
, the button which gives the greatest downward inclination shall be installed to the left or below the button(s) for other dipped-beam positions.
...urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej i spełniające jakiekolwiek z poniższych kryteriów:
dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront and any of the following:
dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej i spełniające jakiekolwiek z poniższych kryteriów:
dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront and any of the following:
...urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
Dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront and any of the following:
Dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
Dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront and any of the following:
...urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:
Dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront having any of the following:
Dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:
Dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront having any of the following:
...urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:
dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront having any of the following:
dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:
dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront having any of the following:
...urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:
Dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront having any of the following:
Dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole
wiązki
falowej charakteryzujące się następującymi parametrami:
Dynamic wavefront (phase) measuring equipment capable of mapping at least 50 positions on a
beam
wavefront having any of the following:
...przez które przechodzi wiązka światła, powinny mieć wielkość umożliwiającą przepuszczenie całej
wiązki
padającej i całej wiązki odbitej.
...of 127 mm. The sample and incident beam apertures in the sphere wall shall be of such a size as to
admit
the entire incident and reflected light beams.
Jeżeli w odbiorniku stosowana jest sfera całkująca, jej średnica wynosi co najmniej 127 mm. Próbka oraz otwory w ściance sfery, przez które przechodzi wiązka światła, powinny mieć wielkość umożliwiającą przepuszczenie całej
wiązki
padającej i całej wiązki odbitej.
When an integrating sphere is used in the receiver section, the sphere shall have a minimum diameter of 127 mm. The sample and incident beam apertures in the sphere wall shall be of such a size as to
admit
the entire incident and reflected light beams.
...przez które przechodzi wiązka światła, powinny mieć wielkość umożliwiającą przepuszczenie całej
wiązki
padającej i całej wiązki odbitej.
The sample and incident beam apertures in the sphere wall shall be of such a size as to
admit
the entire incident and reflected light beams.
Próbka oraz otwory w ściance kuli, przez które przechodzi wiązka światła, powinny mieć wielkość umożliwiającą przepuszczenie całej
wiązki
padającej i całej wiązki odbitej.
The sample and incident beam apertures in the sphere wall shall be of such a size as to
admit
the entire incident and reflected light beams.
Fotodetektor powinien być umieszczony w taki sposób, aby nie był bezpośrednio oświetlony ani przez
wiązkę
padającą, ani przez wiązkę odbitą.
The photodetector shall be located so as not to receive direct light from either the incident or the reflected beams.
Fotodetektor powinien być umieszczony w taki sposób, aby nie był bezpośrednio oświetlony ani przez
wiązkę
padającą, ani przez wiązkę odbitą.
The photodetector shall be located so as not to receive direct light from either the incident or the reflected beams.
Fotodetektor powinien być umieszczony w taki sposób, aby nie był bezpośrednio oświetlony ani przez
wiązkę
padającą ani przez wiązkę odbitą.
The photodetector shall be so located as not to receive direct light from either the incident or the reflected beam.
Fotodetektor powinien być umieszczony w taki sposób, aby nie był bezpośrednio oświetlony ani przez
wiązkę
padającą ani przez wiązkę odbitą.
The photodetector shall be so located as not to receive direct light from either the incident or the reflected beam.
Specjalne zaprojektowany i optymalizowany do działania z energią
wiązki
(napięciem przyspieszającym) mniejszą niż 2 keV;
Being specially designed and optimised to operate at a
beam
energy (accelerating voltage) of less than 2 keV;
Specjalne zaprojektowany i optymalizowany do działania z energią
wiązki
(napięciem przyspieszającym) mniejszą niż 2 keV;
Being specially designed and optimised to operate at a
beam
energy (accelerating voltage) of less than 2 keV; 
