Baza aktów prawnych Unii Europejskiej Cytaty odnotowujące konkretne użycie tłumaczeń słów angielsko-polskich i polsko-angielskich umieszczone w serwisie Translatica.pl pochodzą z Bazy danych DGT-TM, która jest wyłączną własnością Komisji Europejskiej i została udostępniona bezpłatnie i bez ograniczeń terytorialnych. Data dostępu do bazy 02.09.2019. Dokładne informacje nt. pochodzenia źródła tłumaczenia oraz daty powstania dokumentu w bazie DGT-TM zostały umieszczone pod poszczególnymi cytatami wraz z aktywnym odnośnikiem do oryginalnego dokumentu z bazy.
Lista cytatów w języku polskim i angielskim zawierająca frazę: laser
...or 6A005.b., of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor “
lasers
” containing at least one tunable semiconductor “laser” array of such wavelength.
...w 0B001.h.6. lub 6A005.b., o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również stosy baterii »
laserów
« półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną baterię przestrajalnych »laserów« półpr
Tunable semiconductor “lasers” and tunable semiconductor “laser” arrays, other than those specified in 0B001.h.6. or 6A005.b., of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor “
lasers
” containing at least one tunable semiconductor “laser” array of such wavelength.
»Lasery« półprzewodnikowe przestrajalne i baterie przestrajalnych »laserów« półprzewodnikowych, niewyszczególnione w 0B001.h.6. lub 6A005.b., o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również stosy baterii »
laserów
« półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną baterię przestrajalnych »laserów« półprzewodnikowych o tej długości fali.
..."laser" arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor "
lasers
" containing at least one tunable semiconductor "laser" array of such wavelength.
...„laserów” półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce „
laserów
” półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych „laserów” półpr
Tunable semiconductor "lasers" and tunable semiconductor "laser" arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor "
lasers
" containing at least one tunable semiconductor "laser" array of such wavelength.
„Lasery” półprzewodnikowe przestrajalne i matryce przestrajalnych „laserów” półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce „
laserów
” półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych „laserów” półprzewodnikowych o tej długości fali.
...or 6A005.b., of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor “
lasers
” containing at least one tunable semiconductor “laser” array of such wavelength.
...w 0B001.h.6. lub 6A005.b., i długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również stosy baterii »
laserów
« półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną baterię przestrajalnych »laserów« półpr
Tunable semiconductor “lasers” and tunable semiconductor “laser” arrays, other than those specified in 0B001.h.6. or 6A005.b., of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor “
lasers
” containing at least one tunable semiconductor “laser” array of such wavelength.
»Lasery« półprzewodnikowe przestrajalne i baterie przestrajalnych »laserów« półprzewodnikowych, niewyszczególnione w 0B001.h.6. lub 6A005.b., i długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również stosy baterii »
laserów
« półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną baterię przestrajalnych »laserów« półprzewodnikowych i tej długości fali.
...‘laser’ arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor ‘
lasers
’ containing at least one tunable semiconductor ‘laser’ array of such wavelength.
...„laserów” półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce „
laserów
” półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych „laserów” półpr
Tunable semiconductor ‘lasers’ and tunable semiconductor ‘laser’ arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor ‘
lasers
’ containing at least one tunable semiconductor ‘laser’ array of such wavelength.
„Lasery” półprzewodnikowe przestrajalne i matryce przestrajalnych „laserów” półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce „
laserów
” półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych „laserów” półprzewodnikowych o tej długości fali.
...'laser' arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor '
lasers
' containing at least one tunable semiconductor 'laser' array of such wavelength.
...„laserów” półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce „
laserów
” półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych „laserów” półpr
Tunable semiconductor "lasers" and tunable semiconductor 'laser' arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor '
lasers
' containing at least one tunable semiconductor 'laser' array of such wavelength.
„Lasery” półprzewodnikowe przestrajalne i matryce przestrajalnych „laserów” półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce „
laserów
” półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych „laserów” półprzewodnikowych o tej długości fali.
..."laser" arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor "
lasers
" containing at least one tunable semiconductor "laser array" of such wavelength.
..."laserów" półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce "
laserów
" półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych "laserów" półpr
Tunable semiconductor "lasers" and tunable semiconductor "laser" arrays, of a wavelength between 9 μm and 17 μm, as well as array stacks of semiconductor "
lasers
" containing at least one tunable semiconductor "laser array" of such wavelength.
"Lasery" półprzewodnikowe przestrajalne i matryce przestrajalnych "laserów" półprzewodnikowych o długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również matryce "
laserów
" półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną matrycę przestrajalnych "laserów" półprzewodnikowych o tej długości fali.
...of "lasers" incorporating frequency conversion (i.e., wavelength change) by means other than one "
laser
" pumping another "laser" is determined by applying the control parameters for both the...
...częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez „pompowanie” jednego
lasera
innym „laserem” określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia „las
Note 4:The control status of "lasers" incorporating frequency conversion (i.e., wavelength change) by means other than one "
laser
" pumping another "laser" is determined by applying the control parameters for both the output of the source "laser" and the frequency-converted optical output.
Uwaga 4:Poziom kontroli „laserów” wykorzystujących przetworzenie częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez „pompowanie” jednego
lasera
innym „laserem” określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia „lasera” źródłowego jak i do wyjścia optycznego o przekształconej częstotliwości.
...of "lasers" incorporating frequency conversion (i.e. wavelength change) by means other than one "
laser
" pumping another "laser" is determined by applying the control parameters for both the output
...częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez „pompowanie” jednego
lasera
innym „laserem” określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia „las
Note 4:the control status of "lasers" incorporating frequency conversion (i.e. wavelength change) by means other than one "
laser
" pumping another "laser" is determined by applying the control parameters for both the output of the source "laser" and the frequency-converted optical output.
Uwaga 4:Poziom kontroli „laserów” wykorzystujących przetworzenie częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez „pompowanie” jednego
lasera
innym „laserem” określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia „lasera” źródłowego jak i do wyjścia optycznego o przekształconej częstotliwości.
...of "lasers" incorporating frequency conversion (i.e. wavelength change) by means other than one "
laser
" pumping another "laser" is determined by applying the control parameters for both the output
...częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez "pompowanie" jednego
lasera
innym "laserem" określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia "las
Note 4:the control status of "lasers" incorporating frequency conversion (i.e. wavelength change) by means other than one "
laser
" pumping another "laser" is determined by applying the control parameters for both the output of the source "laser" and the frequency-converted optical output.
Uwaga 4:Poziom kontroli "laserów" wykorzystujących przetworzenie częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez "pompowanie" jednego
lasera
innym "laserem" określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia "lasera" źródłowego jak i do wyjścia optycznego o przekształconej częstotliwości.
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions. A line selectable "laser" produces discrete wavelengths...
Przetworzone, skorelowane (połączenie radiolokacyjnych danych o celu z
położeniem
lecącego samolotu) i zaktualizowane dane dotyczące położenia lecącego samolotu, przekazane kontrolerom w ośrodku...
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions. A line selectable "laser" produces discrete wavelengths within one "laser" transition and is not considered "tunable".
Przetworzone, skorelowane (połączenie radiolokacyjnych danych o celu z
położeniem
lecącego samolotu) i zaktualizowane dane dotyczące położenia lecącego samolotu, przekazane kontrolerom w ośrodku kontroli ruchu powietrznego.
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions.
Technika "gwałtownego
krzepnięcia
" polegająca na uderzaniu stopionego
strumienia metalu
w ochłodzony
blok, w wyniku czego powstaje produkt w postaci płatków. N.B
.:"Gwałtowne krzepnięcie": krzepnięcie...
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions.
Technika "gwałtownego
krzepnięcia
" polegająca na uderzaniu stopionego
strumienia metalu
w ochłodzony
blok, w wyniku czego powstaje produkt w postaci płatków. N.B
.:"Gwałtowne krzepnięcie": krzepnięcie roztopionego materiału podczas chłodzenia z szybkością powyżej 1000 K/s.
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions.
...poprzez uczenie/odgrywanie lub za pomocą komputera elektronicznego, który może być programowanym
sterownikiem
logicznym, tj. bez ingerencji mechanicznej. NB
.:Niniejsza definicja nie obejmuje następ
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions.
ma możliwość „programowania dostępnego dla użytkownika” poprzez uczenie/odgrywanie lub za pomocą komputera elektronicznego, który może być programowanym
sterownikiem
logicznym, tj. bez ingerencji mechanicznej. NB
.:Niniejsza definicja nie obejmuje następujących urządzeń: mechanizmów poruszanych wyłącznie ręcznie albo zdalnie przez operatora,
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions.
Niezależnie od innych wybiera on adresowane do niego pakiety z danymi lub grupami danych (
np. IEEE
802). Jest to zespół, który może być wbudowany w komputer lub urządzenie telekomunikacyjne, z...
"Tunable" (6) means the ability of a "
laser
" to produce a continuous output at all wavelengths over a range of several "laser" transitions.
Niezależnie od innych wybiera on adresowane do niego pakiety z danymi lub grupami danych (
np. IEEE
802). Jest to zespół, który może być wbudowany w komputer lub urządzenie telekomunikacyjne, z zadaniem zapewniania dostępu do łączy telekomunikacyjnych.
...not control measuring interferometer systems, without closed or open loop feedback, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or...
...pomiarowych nieposiadających zamkniętej lub otwartej pętli sprzężenia zwrotnego, zawierającej "
laser
" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wypo
Note: 2B006.b.1. does not control measuring interferometer systems, without closed or open loop feedback, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar equipment.
Uwaga: Pozycja 2B006.b.1. nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych nieposiadających zamkniętej lub otwartej pętli sprzężenia zwrotnego, zawierającej "
laser
" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wyposażenia.
...with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar
...automatycznym systemem sterowania nie wykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających "
laser
" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego...
Note: 2B006.b.1. does not control measuring interferometer systems, with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar equipment.
Uwaga: Pozycja 2B006.b.1 nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych z automatycznym systemem sterowania nie wykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających "
laser
" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wyposażenia.
...with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar
...automatycznym systemem sterowania niewykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających "
laser
" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego...
Note:2B006.b.1. does not control measuring interferometer systems, with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar equipment.
Uwaga:Pozycja 2B006.b.1 nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych z automatycznym systemem sterowania niewykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających "
laser
" do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wyposażenia.
...with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar
...automatycznym systemem sterowania nie wykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających „
laser
” do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego...
Note:2B006.b.1. does not control measuring interferometer systems, with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar equipment.
Uwaga:Pozycja 2B006.b.1. nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych z automatycznym systemem sterowania nie wykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających „
laser
” do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wyposażenia.
...with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar
...automatycznym systemem sterowania niewykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających „
laser
” do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego...
Note:2B006.b.1. does not control measuring interferometer systems, with an automatic control system that is designed to use no feedback techniques, containing a "
laser
" to measure slide movement errors of machine-tools, dimensional inspection machines or similar equipment.
Uwaga:Pozycja 2B006.b.1 nie obejmuje kontrolą interferometrycznych systemów pomiarowych z automatycznym systemem sterowania niewykorzystującym technik sprzężenia zwrotnego, zawierających „
laser
” do pomiaru błędów ruchu posuwistego obrabiarek, urządzeń kontroli wymiarów lub podobnego wyposażenia.
o.
Laser
protection equipment (e.g. eye and sensor protection) specially designed for military use.
o. sprzęt chroniący przed oddziaływaniem
promieniowania laserowego
(np. oczy i czujniki) specjalnie zaprojektowany do celów wojskowych.
o.
Laser
protection equipment (e.g. eye and sensor protection) specially designed for military use.
o. sprzęt chroniący przed oddziaływaniem
promieniowania laserowego
(np. oczy i czujniki) specjalnie zaprojektowany do celów wojskowych.
o.
Laser
protection equipment (e.g. eye and sensor protection) specially designed for military use.
o. sprzęt chroniący przed oddziaływaniem
promieniowania laserowego
(np. oczy i czujniki) specjalnie zaprojektowany do celów wojskowych;
o.
Laser
protection equipment (e.g. eye and sensor protection) specially designed for military use.
o. sprzęt chroniący przed oddziaływaniem
promieniowania laserowego
(np. oczy i czujniki) specjalnie zaprojektowany do celów wojskowych; 
